Amazon

Advances scanning electron microscopy techniques: Characterisation of semiconductor heterostructures and devices

1/1

Immagine di Advances scanning electron microscopy techniques: Characterisation of semiconductor heterostructures and devices

Prezzi da

54,33

Link sponsorizzati

	54,33 €	Vai allo shop
CONFRONTA TUTTI I WEBSHOP (1)

Descrizione

Advances scanning electron microscopy techniques: Characterisation of semiconductor heterostructures and devices

Confronta i webshop (1)

Link sponsorizzati · Alcuni negozi ci pagano un compenso

Ordina per:

54,33 €

Descrizione (0)

Advances scanning electron microscopy techniques: Characterisation of semiconductor heterostructures and devices

Specifiche del prodotto

Marchio	Edizioni Accademiche Italiane
EAN	9783330776357

Springer

Microvascular Corrosion Casting in Scanning Electron Microscopy: Techniques and Applications (English Edition)

Più informazioni Maggiori info

Wiley

Scanning Auger Electron Microscopy (English Edition)

Più informazioni Maggiori info

Springer

Scanning Electron Microscopy of Cerebellar Cortex (English Edition)

Più informazioni Maggiori info

Springer

Scanning Transmission Electron Microscopy: Imaging and Analysis (English Edition)

Più informazioni Maggiori info

Scelta in evidenza

54,33 €

Vai allo shop