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nastro conduttivo in carbonio biadesivo ideato appositamente for la microscopia elettronica a scansione (SEM) e la spettroscopia a dispersione di energia a raggi X (EDS). Conduttività eccezionale con resistività inferiore a 5 OHMS/MM2, for garantire un'osservazione del campione accurata e affidabile. La struttura indistinguibile fornisce un substrato di sfondo ideale, migliorando la chiarezza e il dettaglio dei campioni durante l'analisi. Le forti proprietà di adesione consentono un fissaggio sicuro dei campioni, riducendo al minimo i movimenti e migliorando la precisione dell'osservazione. Sono disponibili opzioni personalizzabili; contattaci for soluzioni su misura for soddisfare le tue specifiche esigenze di microscopia elettronica.